網站首頁

|EN

當前位置: 首頁 » 設備館 » 半導體測試設備 » 顯微鏡分類 » 掃描顯微鏡 »BY3000 掃描探針顯微鏡 SPM 廣州本原
    包郵 關注:422

    BY3000 掃描探針顯微鏡 SPM 廣州本原

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    產品品牌

    廣州本原

    庫       存:

    100

    產       地:

    全國

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:廣州本原

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    性價比最高的掃描探針顯微鏡

    性能優(yōu)越

    ● 原子級分辨率和穩(wěn)定度

    ● 大樣品腔設計,適應性強

    ● 主控制系統(tǒng)采用德州儀器(TI)32位高性能數字信號處理器(DSP)

    ● 高壓掃描驅動采用APEX集成高壓運算放大器

    ● 主控制系統(tǒng)內置實時操作系統(tǒng)

    ● 系統(tǒng)采用快速以太網接口(Fast Ethernet)與計算機連接


    功能強大

    ● 原子力顯微鏡(AFM)

    ● 掃描隧道顯微鏡(STM)

    ● 橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM)

    ● I-V、I-Z、力-距離等多種曲線測量分析

    ● 在線實時三維圖像顯示,檢測過程可即時得到更直觀的形貌和豐富的細節(jié)

    ● 多通道信號同時采集和顯示,一次掃描即可同時得到樣品多種性質與特征

    ● 具有圖像及曲線數據導出功能,可取得全部原始數據

    ● 探針表征和圖像重建功能(針尖形貌估算/圖像重建/用已知探針重建圖像)   



    操作簡便

    ● 全程全自動進針,無需手工粗調

    ● 只需更換探針架,即可在STM和AFM等不同類型儀器中切換

    ● 全數字控制,儀器類型、系統(tǒng)狀態(tài)等參數智能識別和控制

    ● 軟件控制樣品移動

    ● 當前全部工作環(huán)境參數和掃描圖像同步保存

    ● 樣品粒度和粗糙度自動分析功能,可得到國家、國際相關標準的全系列參數


    BY3000掃描探針顯微鏡/SPM

     

    系統(tǒng)功能

     

    原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM)

    橫向力/摩擦力顯微鏡(Lateral Force Microscope, LFM)

    掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope, STM)

     

     

    分辨率

     

    掃描隧道顯微鏡(STM):橫向 0.1nm, 垂直 0.01nm
    原子力顯微鏡(AFM):橫向 0.2nm, 垂直 0.1nm

     

     

    參數性能

     

    X-Y掃描范圍:~10μm

    Z方向掃描范圍:~2μm

    圖像分辨率:128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024

    掃描角度:0~360°

    掃描頻率:0.1~100Hz

     

     

    主控制系統(tǒng)

     

    中央處理器:德州儀器(TI)32位數字信號處理器(DSP)

    高速16-bit DAC

    高速16-bit ADC

    高壓掃描驅動:5路APEX集成高壓運算放大器

    通信接口:10M/100M快速以太網(Fast Ethernet 10/100)接口

     

     

    機械性能

     

    樣品尺寸:最大可達直徑45mm,厚度15mm

    全自動步進電機控制進樣系統(tǒng):行程15mm,定位精度50nm/步

     

     

    軟件系統(tǒng)

     

    基于Windows 10/8/7/Vista/XP/2000/9X的在線控制軟件和圖像處理軟件

     

    咨詢

    購買之前,如有問題,請向我們咨詢

    提問:
     

    應用于半導體行業(yè)的相關同類產品:

    服務熱線

    4006988696

    功能和特性

    價格和優(yōu)惠

    微信公眾號