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    半導體器件靜態(tài)特性綜合試驗臺

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備

    庫       存:

    30

    產(chǎn)       地:

    全國

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備

     半導體器件靜態(tài)特性綜合試驗臺

    用于晶閘管、 整流管等半導體器件的阻斷特性測試、門極特性參數(shù)VGT、lGT、通態(tài)電壓測試、維持電流測試,各參數(shù)均采用計算機顯示一鍵式操作測試精度高,操作便捷,是半導體器件測試的必備設備。

     

    一、概述
    DBC-223型半導體器件靜態(tài)特性綜試驗臺的測試方法符合JB/T7626-2013中的相關標準。
    該設備具有如下特點:
    1. 該測試系統(tǒng)是一套靜態(tài)綜合的測試系統(tǒng),綜合測試參數(shù)多,技術水平較高。
    2. 該測試系統(tǒng)是一套大電流、高電壓的測試設備,對設備的電氣性能要求高。
    3. 該系統(tǒng)是一套靜態(tài)參數(shù)的集成測試系統(tǒng),因此該設備的結(jié)構設計較為復雜
    4. 該系統(tǒng)的測試控制完全采用自動控制,測試可按測試員設定的程序進行自動測試。
    5. 該系統(tǒng)采用計算機記錄測試,并可將測試轉(zhuǎn)化為EXCEL文件進行處理,還能實時打印測試結(jié)果。
    6. 該測試系統(tǒng)是半導體器件檢驗測試中不可缺少的專用測試設備。
     該套測試設備主要由以下幾個單元組成:
    1) 門極觸發(fā)參數(shù)測試單元
    2) 維持電流測試單元
    3) 通態(tài)電壓參數(shù)測試
    4) 阻斷參數(shù)測試單元
    5) 計算機控制系統(tǒng)
    2-2.4 阻斷測試
    1. 阻斷電壓(VDRM\VRRM):200—6000V,分辨率10V,準確度±3%±10V;
      分兩檔:200-999V 分辨率10V,準確度±3%±10V;
    1000-6000V 分辨率10V,準確度±3%±10V;
    2. 阻斷漏電流(IDRM\IRRM): 1—100mA 精度 ±3%±0.1mA
    3.保護漏電流:1-99mA
    計算機設定測試時斷態(tài)/反向峰值電壓的保護電壓數(shù)值及斷態(tài)/反向峰值電流的保護電流的數(shù)值。
    4. 測試頻率:50HZ
    5. 測試方式:手動測試方式;

     

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